天平砝碼校準 .校準目的 對天平砝碼校準行內(nèi)部校準,是為了確保在使用期間砝碼能維持其精密度及準確度。 二.適用范圍 本校準規(guī)程適用于使用的F1級以下的砝碼(計量標準器除外)檢定、后續(xù)檢定和使用中檢驗。 三.校準天平砝碼校準條件 1.校準用標準件 外校的標準砝碼 2.校準環(huán)境 溫度:18℃~28℃之間 ,濕度:40%~80%之間 3.校準前準備事項 (1)校準人員在實施校準前,必須熟讀校準規(guī)程及所有校正步驟,以利校準工作的行。 (2)校準時需戴好手套,以隔絕身體溫度對待校樣品和標準件的影響,降低不確定度。 (3)清潔天平砝碼。 用無水乙醇清潔砝碼或局部,帶有調(diào)整腔的砝碼不得浸入溶液中,以免液體浸入腔體。在清潔過程中不能去除任何塊砝碼材料,砝碼在抓取和儲存時都必須保持其清潔,清潔時不得改變砝碼的表面特性(如劃傷砝碼)。 (4)砝碼用溶液清洗之后,標準件與砝碼在校準環(huán)境下,至少恒溫1小時以上,以其達到校驗環(huán)境。 四. 校準步驟 1.外觀 砝碼的表面狀況應使得在正常使用條件下,砝碼質(zhì)量的變化相對對于zui允許誤差而言是可以忽略不計的。 (1)被檢砝碼的表面不應有沙眼:用目力檢查時,表面應有光澤。 (2)對于使用中的砝碼,砝碼提上的標記不得涂抹、修改。若需要對砝碼行標識時,可標識于砝碼盒等裝砝碼的器具上,不得標識在砝碼上,避免影響砝碼準確度。 2.質(zhì)量檢定 選臺在校驗期內(nèi)分辨率在0.0001g以上的電子天平即萬分之電子天平(電子分析天平)作為衡量器,按照天平的操作程序,將200g的標準砝碼放入托盤上,使天平參照該砝碼的標準行自校,自校的選點還可根據(jù)需求增加。 校準前,將天平清,用鑷子將被檢砝碼放在托盤上,關(guān)上天平的防護玻璃,待數(shù)據(jù)穩(wěn)定后記錄其顯示值,每個砝碼在校準時,需在天平托盤的中心、四周不同位置取點,zui少取5點,每次取點前天平應清,該砝碼的質(zhì)量值為多次測量的平均值。 當測量完個被檢砝碼后,需按照稱量被檢砝碼的方法,測量相同質(zhì)量的標準砝碼,zui終被檢砝碼的平均值減去標準砝碼的平均值,即為該砝碼的質(zhì)量誤差。 五.校準結(jié)果處理 校準后要對校準結(jié)果行處理,經(jīng)校準符合本校準規(guī)程要求的出具內(nèi)校報告,粘貼標簽。如出公差或不適合使用時,應降級使用或報廢處理,并在報告中注明不符合項目。校準后,標準件應做好保養(yǎng)清潔,放置于規(guī)定的位置,關(guān)閉比較用天平。 |